客户经常在使用LCR电桥测试高诱电率型陶瓷电容容量时，有时会无法得到与标称静电容量相同的值，下面我们来说明下这个问题。

       高诱电型陶瓷电容的静态电容量，会随温度、电压、频率及时间变化而发生变化；以下图一到图五为变化图：

图一：温度特性，静电容量随温度的变化而变化。

图二：DC偏压特性，静电容量随不同的DC偏压而发生变化。

图三：AC电压特性，静电容量随着AC电压变化而发生变化。

图四：频率特性，静电容量随着频率变化而发生变化。

图五：老化特性，静电容量随时间变化而发生变化。

       我们就从以上因素中，选择电压这个因素具体来说明：

测试样品型号：1206 X7R 10UF K 10V

测试条件：频率1±0.1KHz，电压1.0±0.2Vrms

       通常一般的LCR测试电桥去测试高诱电型贴片电容，会把测试电桥的测试电压拉低，导致实际加载在被测贴片电容两端的测试电压不足1.0V（原因为一般的LCR测试电桥不具备ALC电压调整机制），加以下图片说明：

图六， 图七，

图六：A、表示测试电压设定为1.0V，B、表示ALC通道已打开；图七：A、表示实际的监测电压，B、表示测试出来的容量为9.855uF。

图八，图九，

图八：A、表示ALC通道已关闭，B、表示测试电压设定为1.0V；图七：A、表示实际的监测电压已被拉低到0.18V，B、表示测试出来的容量为8.429uF。

       以上就是贴片电容静电容值的五大特性和测试方法的详细解读，还有疑问可咨询佳益电子客服。